• 横幅

yaboAPP手机客户端用于工业和医疗的半导体ATE解决方案

提供自动化行业的解决方案

富裕工业医疗市场测试解决方案

舒乌吃了经验

  • 支持医疗客户的悠久历史
  • 高精度DAC和ADC测量仪表和专业知识
  • DSP测试技术领导者
  • 复合仪器优化测试系统配置

应用程序

  • 用于医疗设备和仪器的转换器
  • 触摸屏显示
  • 磁盘驱动器预先读/写
  • 可以在各种市场上的总线应用程序
  • 工厂自动化/ DeviceNet
  • MCU具有植入医疗设备的电源管理

测试系统解决方案

灵活,成本优化的测试解决方案,适用于最具挑战性的应用

Diamondx测试系统将Cohu的低成本高吞吐量生产测试解决方案平台扩展到高引脚数,更高的站点数无线,移动性,SOC,平板显示驱动器,电源管理和微控制器。旨在满足成本驾驶员的IC公司面临,Diamondx扩展了Cohu的领导​​下降低了运营成本。

对汽车,移动性,物联网/ IOV /光电,工业和医疗和消费市场的资本和运营成本的突破性降低。

经过验证的高密度数字,直流,模拟仪器以及技术领先的精密模拟,Serdes,RF和汽车测试使Diamondx测试系统适用于今天广泛的设备。

通过生产测试改变设计规则

Diamondx DXV在台式PC占地面积中提供完整的半导体AyaboAPP手机客户端TE性能。完全集成的超紧凑型测试系统,旨在用于工程实验室或办公室。与传统的半导体ATE溶液不同,没有大型yaboAPP手机客户端机,所需的单独工作站或支架柜。DXV完全独立,因此可以放在板凳或桌面上:

  • 超紧凑,小占地面积小,重量轻,单盒设计
  • 空气冷却,为办公环境而低环境噪音
  • 节能,低功耗
  • 理想的实验室开发和大批量生产

仪表解决方案

汽车测试复合销

  • 允许测试CAN和LIN的复合PIN仪器,符合这些汽车产品所需的SAE标准yabo88.vip
  • 通过CAN和LIN负载和LIN驱动器减少负载板复杂性,以及用于DUT引脚连接的多个资源的集成开关路径
  • 瞬态检测能力在程序开发或生产测试中捕获设备的扰动

模拟时间测量处理器

  • 通过每针可编程比较器水平和可编程滞后灵活的定时测量
  • 使用SmartMux降低载体复杂性以进行高压定时测量

用于测试数字和混合信号设备的高价值解决方案

  • 灵活的时机
  • 可重新配置的模式内存
  • 深度捕捉记忆
  • 高精度PMU
  • 内置时间测量
  • 超级电压
  • 综合软件工具

高压,高电流浮动可编程电源

  • 具有高功率脉冲模式操作的快速吞吐量
  • 瞬态检测能力在程序开发中捕获设备的扰动,或生产测试
  • 使用SmartMux降低载体框复杂性,用于高压和电流信号路由
  • 专家模式,最大限度地提高仪器的能源效率

32通道数字仪器

  • 在每个频道上完全独立地编程时序和水平
  • 与其他仪器同步信令
  • 用于生成RF前端应用中使用的数字协议的读/写存储器
  • 多站点编程模型
  • 200 Mbps的完整模式测序

数字SOC,模拟SOC和MCU数字测试的通用数字仪器

  • 灵活的模式内存分配
  • 多种模式生成
  • 发送和接收数字化波形
  • DC和AC模拟测试仪器的图案同步与控制

高功率电压/电流可编程电源

  • 具有高功率脉冲模式操作的快速吞吐量
  • 瞬态检测能力在程序开发中捕获设备的扰动,或生产测试
  • 使用SmartMux降低载体框复杂性,用于高压和电流信号路由

高性能Serdes测试的可扩展性,成本高效的解决方案

  • 具有内置PRBS BERT TX / RX的物理层测试
  • BIST / DFT测试使用高带宽驱动器/比较内存
  • 协议级混合信号测试使用深发送模式存储器

SERDES / LVDS / MIPI接口的高速解决方案

  • 具有内置PRBS BERT TX / RX的物理层测试
  • BIST / DFT测试使用高带宽驱动器/比较内存
  • 使用Deep发送模式存储器的协议级和混合信号测试

8车道Serdes用于测试高速串行接口的仪器

  • 具有内置PRBS BERT TX / RX的物理层测试
  • BIST / DFT测试使用高带宽驱动器/比较内存
  • 协议级别测试使用深发送和接收模式存储器

超高清显示驱动器IC的测试解决方案

  • 用于移动和平板电脑应用的集成显示驱动程序,包括触摸和显示驱动程序集成(TDDI)
  • 大型面板电视和监控应用,包括超高清和240Hz刷新率
  • 扩展范围选择
  • 每个通道的128K捕获内存
  • 工业和汽车展示司机

LVDS端口和DDR内存端口测试的优化解决方案

  • 匹配用于简化DUT板的DDR内存控制器的接口结构和要求
  • 支持内置内存协议支持
  • 相同的周期匹配能力,支持最多8个周期的数据延迟

4通道浮动VI,用于需要更高功率的应用,浮动VI

  • 完整的四个象限操作,在+/- 60 v的范围内每通道提供脉冲电流,可达5次
  • 可以在内部并联操作以进行最多20 A,可以堆叠高达240 V
  • 自动定序器,仪表每引脚和纹波输入

四边形时间测量处理器

  • 每膳四个独立的时间测量通道
  • 每个通道都有自己的直接路径,可以通过3个电压范围和3个可选过滤器进行编程

精密电压/电流源和用于汽车和工业设备的先进功能的测量

  • 每个通道的调制发生器和数字转换器等先进功能使VI1x能够用于各种设备测量
  • 内部和外部触发器的组合可用于门控和取样以获得最大的测试灵活性
  • 时间测量单元测量上升和下降时间,脉冲,周期,频率和时间差,使VI1X成为真正多功能的仪器

专业知识

了解有关我们的半导体ATE解决方案的更多信yaboAPP手机客户端息