汽车和电力接口解决方案
提供可靠的解决方案，支持“零缺陷”的严格质量要求。
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行业领先的高电流/电压开尔文解决方案，适用于xEV应用，具有陡峭的信号上升/下降时间，通过创新的接触材料和涂层卓越的寿命。
设备需求
- 大电流
- 高电压
- RDSON
- Tri-temp
- 功率输送，频率高
接触器的需求
- 开尔文能力
- 大电流(500 A)
- 高接触力(70克)和擦拭
- 最小清洗间隔(100 K循环)
- 多站点测试(16 x)
- 提高温度性能从-60°C到+200°C
应用程序
- 领导的司机
- 微控制器
- 场效电晶体
- 电机驱动程序
- 电源管理集成电路
- 电压调节器
测试接触器(插座)/探头解决方案
cCompact接触器
理想的模拟和智能电源设备的多站点测试要求开尔文
减少场地间距的概念，使高并行测试的电源应用，条带测试和挑选和放置处理平台亚博88官网
cDragon接触器
卓越的射频性能和低成本的拥有
cDragon引脚的热设计支持快速温度控制响应和可重复的温度测试设备在处理程序环境的稳定。
通过设计，cDragon的引脚从测试接口板的引脚一侧解耦插入运动。这消除了测试接口板垫磨损。
cDragon的低轮廓和高带宽低电感使其成为测试移动通信，射频开关，A/D转换器，LNA，和PMIC设备的理想接触解决方案。cDragon的引脚对焊料迁移的亲和性将确保低且可重复的接触电阻。
cDragon可以用于测试任何周边pad设备(QFN, DN, PLCC)和铅封装(QFP, SO)。
cHybrid角楼开尔文接触器
适用于0.3 mm x 0.6 mm以下的含铅和无铅器件
紧凑的多光束销结构，高密度系统集成在炮塔处理器与并排设计非常小的垫尺寸。
cHybrid开尔文接触器包含一个新的和独特的接触弹簧架构，允许测试插座适应挑战性的IC垫几何要求，今天和未来的小封装类型。使用寿命长达300万次，具有一流的接触电阻重复性，显著降低了测试成本。根据具有挑战性的电气测试要求，多波束接触结构优化了信号完整性和电流能力。
cHybrid开尔文接触器采用多光束接触弹簧结构，提高了产量，延长了使用寿命，减少了清洗周期。这种创新的解决方案将帮助客户降低成本，最大化生产率。
cPython开尔文接触器/探头头
高性能开尔文接触，用于大批量生产测试
cPython开尔文接触器和探头头提供优越的电气和热性能，显著节省成本。这使得cPython Kelvin非常适合实验室和模拟和混合信号集成电路的大批量生产测试，如功率控制，A-D和D-A转换器，音频，视频，功率放大器，光子学，光学MEMS和传感器等应用。
cPython开尔文探头电气隔离和机械独立的力和感觉路径的真正开尔文接触，以采取准确的测量，即使在高电流条件下。这些强大的探测器提供数十万次插入或着陆，带宽高达26ghz。cPython Kelvin探针可以着陆0.4 mm距的目标，其探针间距为90µm，可以着陆小目标。cPython探针与同构技巧可以用于优化性能。
弹射接触器/探针头
最低的COT为下一代5G mmWave FR2高达54+ GHz
cRacer采用强大的弹簧探针技术，用于测试具有细节距和WLCSP兼容性的晶圆探针(颠簸/垫)应用的模拟封装或探针头——长度从150µm到650µm，覆盖了大多数5G设备。
cRacer采用不锈钢弹簧进行三温测试，在-55°C至+155°C的工作温度下性能良好。
ecoAmp开尔文接触器
悬臂式接触器用于高功率应用
ecoAmp开尔文是一个高功率悬臂开尔文接触器与专利弹簧和尖端设计最佳散热。这确保了最佳的可靠性，长弹簧寿命和高产量，即使在最高的电流和温度要求。
MiCon接触器
用于mcu和asic的验证悬臂技术
MiCon是兼容弹簧销足迹，支持先进的温度要求和先进的功率/电流要求。足迹兼容性允许轻松和成本效益的转换从弹簧针设置。弹簧完全解耦的负载板一侧确保负载板垫没有退化。
MiCon采用单片设计，保证了长寿命，低稳定的接触电阻，高电流承载能力和扩展的温度范围。MiCon允许在完全规格值下进行测试。扩展的操作范围可适应器件引线trim和形式的可变性，如器件对准精度和器件引线共面性。
毫微开尔文接触器
开尔文测试插座，用于高功率插板应用
nanoKelvin是一个完善的悬臂开尔文接触器，在汽车市场上证明了性能，并由于产品的健壮性和可靠性进一步增加的普及。
xWave接触器/探头头
宽带生产解决方案的cmWave和mmWave高达100ghz
xWave接触器采用专利混合接触技术，优化射频性能，并为最具挑战性的cmWave和mmWave设备的生产测试提供健壮性。在xWave接触器内部是嵌入式贴片天线和共面波导，用于无线和有线通信。
除了无线通信之外，xWave接触器通过使用共面波导结构，直接与被测设备连接，绕过PCB，通过同轴电缆或波导连接到测试设备，从而减少被测设备和测试设备之间的过渡数量。
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