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测试接触器(插座)/探针头(引脚)

下一代5G mmWave FR2的最低COT可达54+ GHz

cRacer测试接触器(插座)和探针头(引脚)组合为高达54+ GHz的5G mmWave FR2提供解决方案。

克拉卡利用鲁棒弹簧探头技术,用于测试晶圆探头(凸块/垫)应用的单一的封装或探头头,具有细间距和WLCSP兼容性 - 范围为150μm至650μm,覆盖大部分5g器件。

cRacer采用不锈钢弹簧进行三温测试,在-55°C至+155°C的工作温度下具有良好的性能。

每个探头间距包括一个截面和探头技术,预计可在低接触电阻的情况下承受数十万次插入/循环的生产环境。具有高达54+ GHz @- 1db的带宽,可为您的高频设备提供性价比高的解决方案。

  • 关键特性

    • 各种接触材料,以优化DUT互连
    • FBGA, Pad, WLCSP, BGA, LGA, QFN
    • 低回路电感,高带宽
    • 音高降低到150µm
    • 可选浮动对准板
    • 大型合规窗口
    • 优良的载流能力
  • 好处

    • 优异的抗压稳定性,延长使用寿命
    • 所有包装类型的最佳接触
    • RF设备的高信号完整性和功率传输
    • 适用于模拟封装、带或晶片级测试
    • 所有设备类型的优良接触选择
  • 包类型

    • BGA
    • FBGA
    • 达到
    • QFN
    • WLCSP
    • 单一包装,条带测试和晶圆级测试

克拉宏概念-实现54+ GHz

一个该技术将传统的弹簧探针技术与介质优化的插座架构相结合,达到54+ GHz频率,并提供低测试成本的高产量。Cohu, Inc.的Peter Cockburn和Jason Mroczkowski在2021年TestConX上发表。

专业知识

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