2021.
5G mmwave.对测试环境有巨大的影响,并且从设计和实现的角度来看是革命性的。了解如何设计用于测试5G mmWave设备的接口,以使从ATE测试仪到DUT的信号传输损耗最小。本文在TestConx 2021呈现。
第二代80 GHz汽车设备正在达到大批量生产测试环境。了解如何开发接口解决方案来测试第二代汽车雷达,通过终止探头头内的80 GHz信号,并提供用于向DUT采购DC电压的路径。本文在TestConx 2021呈现。
这篇报告解释了Cohu的自适应热管理能力(T-Core)如何在预期温度下测试设备。本文呈现在Meptec 2021。
一种将传统弹簧探头技术与电介质优化的插座架构相结合的技术,达到54以上的GHz频率,并具有低成本的高产量。在TestConx 2021呈现。
2020.
在TestCon2020交付的此演示文稿将定义下一代测试方法和设备,用于在产品开发阶段期间验证接口硬件。在本演示文稿中将引入更复杂的测试方法。这包括处理设备在实验室中提供真正的大量生产环境。介绍的方法允许同时测试许多环境变量。不再需要用不同的设备循环和测试。
TestConx 2020的参加者选择奖获得者。新兴的5G市场为无线IC产业创造了巨大的机会。同时,在新的5G频带中提供OTA测试解决方案被认为是一个重要要求。本文提出了新一代OTA测试解决方案。
2019年
包装(AIP)器件中的5G天线和集成天线模块的各种挑战对生产测试单元构成了独特的挑战。测试要求在MMWAVE(30GHz - 100 GHz)频带中的空气(OTA)测试解决方案呼叫,而大多数现有的OTA解决方案仅针对实验室环境设计。
本文介绍了用于WLCSP和WLP半导体测试的微带天线的开发的视角。yaboAPP手机客户端将讨论的工作包括设计,制造和安装接触器中的微带贴片天线和用于测试的探头头。
今天CMWave(3-30 GHz)和MMWAVE(30-300 GHz)应用已成为主流。包装已变成过时,晶圆正在成为新的最终测试包。
随着我们在5G地区迈出,手机制造商正在转到AIP IC。包装(或AIP)中的天线是IC包装中的新趋势,其制造了较小和高集成的IC,包括包内的IC和天线组成。
有效的热管理已成为测试设备,其具有更快的开关速度晶体管的设备,这些晶体管在较小的包装中增加。这些装置在极端稳定的测试温度下保持时散热更多的热量。
通过2009年国际SEMATECH制造业倡议公布的,晶片探针中使用的互连的CCC(电流承载能力)的公认标准是ISMI探测委员会当前载人能力测量指南。
今天CMWave(3-30 GHz)和MMWAVE(30-300 GHz)应用已成为主流。晶圆正在成为新的最终测试包。以80 GHz和150°C的晶圆上测试汽车雷达以前是一个幻想,但现在是现实。